• 分析含量：ppm到99.9%
• 溫度適應(yīng)范圍：15℃至30℃
• 電源：交流220V±5V 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源
• 樣品腔尺寸：439mm×300mm×50mm
• 分析范圍：同時(shí)可以分析30種以上元素，五層鍍層
• 移動(dòng)平臺(tái)：精密二維移動(dòng)樣品平臺(tái)，探測(cè)器和X光管上下可動(dòng)，實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。

　膜厚儀又叫膜厚計(jì)、膜厚測(cè)試儀，分為磁感應(yīng)鍍層測(cè)厚儀，電渦流鍍層測(cè)厚儀，熒光X射線儀鍍層測(cè)厚儀。采用磁感應(yīng)原理時(shí)，應(yīng)用從測(cè)頭經(jīng)過(guò)非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來(lái)測(cè)定覆層厚度。也能夠測(cè)定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小，來(lái)表示其覆層厚度。 　　膜厚儀采用磁感應(yīng)原理時(shí)，應(yīng)用從測(cè)頭經(jīng)過(guò)非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來(lái)測(cè)定覆層厚度。也能夠測(cè)定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小，來(lái)表示其覆層厚度。覆層越厚，則磁阻越大，磁通越小。應(yīng)用磁感應(yīng)原理的測(cè)厚儀，準(zhǔn)繩上能夠有導(dǎo)磁基體上的非導(dǎo)磁覆層厚度。假如覆層資料也有磁性，則請(qǐng)求與基材的導(dǎo)磁率之差足夠大（如鋼上鍍鎳）。當(dāng)軟芯上繞著線圈的測(cè)頭放在被測(cè)樣本上時(shí)，儀器自動(dòng)輸出測(cè)試電流或測(cè)試信號(hào)。早期的產(chǎn)品采用指針式表頭，丈量感應(yīng)電動(dòng)勢(shì)的大小，儀器將該信號(hào)放大后來(lái)指示覆層厚度。近年來(lái)的電路設(shè)計(jì)引入穩(wěn)頻、鎖相、溫度補(bǔ)償?shù)鹊匦录夹g(shù)，應(yīng)用磁阻來(lái)調(diào)制丈量信號(hào)。還采用設(shè)計(jì)的集成電路，引入微機(jī)，使丈量精度和重現(xiàn)性有了大幅度的進(jìn)步（簡(jiǎn)直達(dá)一個(gè)數(shù)量級(jí)）。 　　磁性原理膜厚儀可應(yīng)用來(lái)準(zhǔn)確丈量鋼鐵外表的油漆層，瓷、搪瓷防護(hù)層，塑料、橡膠覆層，包括鎳鉻在內(nèi)的各種有色金屬層，以及化工石油待業(yè)的各種防腐涂層。

鍍層厚度測(cè)試儀，測(cè)厚儀

滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求、φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求、高精度移動(dòng)平臺(tái)可定位測(cè)試點(diǎn)，重復(fù)定位精度小于0.005mm、采用高度定位激光，可自動(dòng)定位測(cè)試高度、定位激光確定定位光斑，確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊、鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái)，鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測(cè)點(diǎn)、高分辨率探頭使分析結(jié)果更加精準(zhǔn)、良好的射線屏蔽作用、測(cè)試口高度敏感性傳感器保護(hù)

鍍層厚度測(cè)試儀，測(cè)厚儀

型號(hào)：Thick 800A、元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）、同時(shí)可以分析30種以上元素，五層鍍層、分析含量一般為ppm到99.9% 、鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）、任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型、相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型、多變量非線性回收程序、度適應(yīng)范圍為15℃至30℃、電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源、外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm、樣品室尺500(W)×350(D)×140(H) mm、重量：90kg