鍍層厚度分析儀,電鍍層測厚儀 X射線測厚儀原理是根據(jù)X射線穿透被測物時的強度衰減來進行轉(zhuǎn)換測量厚度的,即測量被測鋼板所吸收的X射線量,根據(jù)該X射線的能量值,確定被測件的厚度。由X射線探測頭將接收到的信號轉(zhuǎn)換為電信號,經(jīng)過前置放大器放大,再由測厚儀操作系統(tǒng)轉(zhuǎn)換為顯示給人們以直觀的實際厚度信號。
X射線測厚儀原理是根據(jù)X射線穿透被測物時的強度衰減來進行轉(zhuǎn)換測量厚度的,即測量被測鋼板所吸收的X射線量,根據(jù)該X射線的能量值,確定被測件的厚度。由X射線探測頭將接收到的信號轉(zhuǎn)換為電信號,經(jīng)過前置放大器放大,再由測厚儀操作系統(tǒng)轉(zhuǎn)換為顯示給人們以直觀的實際厚度信號。
X射線源輻射強度的大小,與X射線管的發(fā)射強度和被測鋼板所吸收的X射線強度相關。一個在系統(tǒng)量程范圍內(nèi)的給定厚度,為了確定其所需的X射線能量值,可利用M215型X射線檢測儀進行校準。在檢測任一特殊厚度時,系統(tǒng)將設定X射線的能量值,使檢測能夠順利完成。
在厚度一定的情況下,X射線的能量值為常量。當安全快門打開,X射線將從X射線源和探頭之間的被測鋼板中通過,被測鋼板將一部分能量吸收,剩余的X射線被位于X射線源正上方的探頭接收,探頭將所接收的X射線轉(zhuǎn)換為與之大小相關的輸出電壓。如果改變被測鋼板的厚度,則所吸收的X射線量也將改變,這將使探頭所接收的X射線量發(fā)生變化,檢測信號也隨之發(fā)生相應的變化。射線測厚儀按射線源的種類可分為X射線測厚儀與核輻射線測厚儀兩類,而后者又可多r射線測厚儀與 射線測厚儀。按射線與被測板材的作用方式,又可分為穿透式和反射式。
鍍層厚度分析儀,電鍍層測厚儀性能特點
滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求
φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求
高精度移動平臺可定位測試點,重復定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光,可自動定位測試高度
定位激光確定定位光斑,確保測試點與光斑對齊
鼠標可控制移動平臺,鼠標點擊的位置就是被測點
高分辨率探頭使分析結(jié)果更加精準
良好的射線屏蔽作用
測試口高度敏感性傳感器保護
型號:Thick 800A
元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)。
同時可以分析30種以上元素,五層鍍層。
分析含量一般為ppm到99.9% 。
鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)(每種材料有所不同)
任意多個可選擇的分析和識別模型。
相互獨立的基體效應校正模型。
多變量非線性回收程序
度適應范圍為15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。