電鍍測(cè)厚儀,X熒光鍍層測(cè)厚儀 涂層膜厚儀 鍍層生產(chǎn)廠家 XTU系列測(cè)厚儀雖然結(jié)構(gòu)緊湊,但是都有大容量的開槽設(shè)計(jì)樣品腔,即使超過樣品腔尺寸的工件也可以測(cè)試。 搭配微聚焦射線管和*的光路設(shè)計(jì),以及變焦算法裝置,可測(cè)試極微小和異形樣品。 檢測(cè)78種元素鍍層·0.005um檢出限·小測(cè)量面積0.002mm2·深凹槽可達(dá)90mm。外置的高精密微型滑軌,可以快速控制樣
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X熒光鍍層測(cè)厚儀 涂層膜厚儀 鍍層生產(chǎn)廠家?
儀器簡(jiǎn)介
XTU系列測(cè)厚儀雖然結(jié)構(gòu)緊湊,但是都有大容量的開槽設(shè)計(jì)樣品腔,即使超過樣品腔尺寸的工件也可以測(cè)試。
搭配微聚焦射線管和*的光路設(shè)計(jì),以及變焦算法裝置,可測(cè)試極微小和異形樣品。
檢測(cè)78種元素鍍層·0.005um檢出限·小測(cè)量面積0.002mm2·深凹槽可達(dá)90mm。
外置的高精密微型滑軌,可以快速控制樣品移動(dòng),移動(dòng)精度0.005mm,速度10-30mm(X-Y)/圈,再小再多的樣品測(cè)試都沒有難度,讓操作人員輕松自如。
XTU系列測(cè)厚儀雖然結(jié)構(gòu)緊湊,但是都有大容量的開槽設(shè)計(jì)樣品腔,即使超過樣品腔尺寸的工件也可以測(cè)試。
搭配微聚焦射線管和*的光路設(shè)計(jì),以及變焦算法裝置,可測(cè)試極微小和異形樣品。
檢測(cè)78種元素鍍層·0.005um檢出限·小測(cè)量面積0.002mm2·深凹槽可達(dá)90mm。
外置的高精密微型滑軌,可以快速控制樣品移動(dòng),移動(dòng)精度0.005mm,速度10-30mm(X-Y)/圈,再小再多的樣品測(cè)試都沒有難度,讓操作人員輕松自如。
應(yīng)用領(lǐng)域
線路板、引線框架及電子元器件接插件檢測(cè)
鍍純金、K金、鉑、銀等各種飾品的膜層成分和厚度分析
手表、精密儀表制造行業(yè)
釹鐵硼磁鐵上的Ni/Cu/Ni/FeNdB
汽車、五金、電子產(chǎn)品等緊固件的表面處理檢測(cè)
衛(wèi)浴產(chǎn)品、裝飾把手上的Cr/Ni/Cu/CuZn(ABS)
電鍍液的金屬陽離子檢測(cè)
X熒光鍍層測(cè)厚儀 涂層膜厚儀 鍍層生產(chǎn)廠家?性能優(yōu)勢(shì):
下照式設(shè)計(jì):可以快速方便地定位對(duì)焦樣品。
無損變焦檢測(cè):可對(duì)各種異形凹槽進(jìn)行無損檢測(cè),凹槽深度范圍0-90mm.
微聚焦射線裝置:可檢測(cè)面積小于0.002mm2的樣品,可測(cè)試各微小的部件。
高效率的接收器:即使測(cè)試0.01mm2以下的樣品,幾秒鐘也能達(dá)到穩(wěn)定性。
精密微型滑軌:快速定位樣品。
EFP*算法軟件:多層多元素,甚至有同種元素在不同層也難不倒EFP算法軟件。
項(xiàng) 目 | 參 數(shù) |
測(cè)量元素范圍 | Cl(17)-U(92) |
涂鍍層分析范圍 | 各種元素及有機(jī)物 |
分析軟件 | EFP,可同時(shí)分析23層鍍層,24種元素,不同層有相同元素也可分析 |
軟件操作 | 人性化封閉軟件,自動(dòng)提示校正和步驟,避免操作錯(cuò)誤 |
X射線裝置 | W靶微聚焦加強(qiáng)型射線管 |
準(zhǔn)直器 | ? 0.05 mm 0.1 mm 0.2 mm 0.5 mm;準(zhǔn)直器任意選擇一種 |
近測(cè)距光斑擴(kuò)散度 | 10% |
測(cè)量距離 | 具有距離補(bǔ)償功能,可改變測(cè)量距離,能測(cè)量凹凸異型樣品,變焦距離0-30mm(特殊要求可以升級(jí)到90mm) |
樣品觀察 | 1/2.5彩色CCD,變焦功能 |
對(duì)焦方式 | 高敏感鏡頭,手動(dòng)對(duì)焦 |
放大倍數(shù) | 光學(xué)38-46X,數(shù)字放大40-200倍 |
樣品臺(tái)尺寸 | 500mm*360mm |
移動(dòng)方式 | 高精密XY手動(dòng)滑軌 |
可移動(dòng)范圍 | 50mm*50mm |
隨機(jī)標(biāo)準(zhǔn)片 | 十二元素片、Ni/Fe 5um、Au/Ni/Cu 0.1um/2um |
其它附件 | 聯(lián)想電腦一套、噴墨打印機(jī)、附件箱 |